プルミアム
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株式会社右近工舎

特許 全7件

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全7件 （1〜7件目を表示）

  1. 分光測定方法および分光測定装置

    出願日
    2017年1月5日
    登録番号
    6784603
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 分光測定方法および分光測定装置

    出願日
    2017年1月5日
    登録番号
    6784603
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 分光測定方法および分光測定装置

    出願日
    2017年1月5日
    登録番号
    6784603
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 分光測定方法および分光測定装置

    出願日
    2017年1月5日
    登録番号
    6784603
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 分光測定方法および分光測定装置

    出願日
    2017年1月5日
    登録番号
    6784603
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 表面増強ラマン散乱分光測定用基板及びそれを用いた装置

    出願日
    2014年8月11日
    登録番号
    6245664
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 表面増強ラマン散乱分光測定用基板及びそれを用いた装置

    出願日
    2014年8月11日
    登録番号
    6245664
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）