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株式会社応用科学研究所

特許 全6件

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全6件 (1〜6件目を表示)

  1. X線分析装置

    出願日
    2020年1月24日
    登録番号
    6851107
    技術分野
    核物理;核工学
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. X線分析装置

    出願日
    2020年1月24日
    登録番号
    6851107
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. X線分析装置

    出願日
    2020年1月24日
    登録番号
    6851107
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  4. X線分析装置

    出願日
    2020年1月24日
    登録番号
    6851107
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  5. 研磨装置

    出願日
    2017年1月12日
    登録番号
    6544694
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  6. 研磨装置

    出願日
    2017年1月12日
    登録番号
    6544694
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)