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ダイトロン株式会社

特許 全75件

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全75件 （1〜30件目を表示）

  1. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月11日
    登録番号
    7415216
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月11日
    登録番号
    7415216
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月11日
    登録番号
    7415216
    技術分野
    電気通信技術
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月11日
    登録番号
    7415216
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月11日
    登録番号
    7415216
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月11日
    登録番号
    7415216
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月11日
    登録番号
    7415216
    技術分野
    電気通信技術
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月5日
    登録番号
    7415215
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 外観検査装置

    出願日
    2023年9月5日
    登録番号
    7415215
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 外観検査装置

    出願日
    2023年7月13日
    登録番号
    7426575
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 外観検査装置

    出願日
    2023年7月13日
    登録番号
    7426575
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 外観検査装置

    出願日
    2023年7月13日
    登録番号
    7426575
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 外観検査装置及び外観検査方法

    出願日
    2023年1月27日
    登録番号
    7486715
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 外観検査装置及び外観検査方法

    出願日
    2023年1月27日
    登録番号
    7486715
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 異常判定方法、異常判定装置及びプログラム

    出願日
    2022年11月30日
    登録番号
    7311820
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 異常判定方法、異常判定装置及びプログラム

    出願日
    2022年11月30日
    登録番号
    7311820
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 異常判定方法、異常判定装置及びプログラム

    出願日
    2022年11月30日
    登録番号
    7311820
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 異常判定方法、異常判定装置及びプログラム

    出願日
    2022年11月30日
    登録番号
    7311820
    技術分野
    制御；調整
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 異常判定方法、異常判定装置及びプログラム

    出願日
    2022年11月30日
    登録番号
    7311820
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 欠陥評価方法及びプログラム

    出願日
    2020年12月7日
    登録番号
    7453552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 検査装置

    出願日
    2020年9月9日
    登録番号
    7473812
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 検査装置

    出願日
    2020年9月9日
    登録番号
    7473812
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. ウェーハのノッチの加工方法及び砥石

    出願日
    2020年9月8日
    登録番号
    7286596
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）