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有限会社高度技術研究所

特許 全3件

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全3件 （1〜3件目を表示）

  1. 位相差画像検査装置及び位相差画像検査方法

    出願日
    2016年1月21日
    登録番号
    6603588
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 位相差画像検査装置及び位相差画像検査方法

    出願日
    2016年1月21日
    登録番号
    6603588
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 位相差画像検査装置及び位相差画像検査方法

    出願日
    2016年1月21日
    登録番号
    6603588
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）