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日本電子株式会社

特許 全1736件

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全1736件 （1〜30件目を表示）

  1. 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法

    出願日
    2022年4月21日
    登録番号
    7453273
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法

    出願日
    2022年4月21日
    登録番号
    7453273
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 荷電粒子線装置

    出願日
    2022年3月23日
    登録番号
    7465299
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 荷電粒子線装置

    出願日
    2022年3月23日
    登録番号
    7465299
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 荷電粒子線装置

    出願日
    2022年3月23日
    登録番号
    7465299
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 収差補正装置および電子顕微鏡

    出願日
    2022年2月22日
    登録番号
    7465295
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 収差補正装置および電子顕微鏡

    出願日
    2022年2月22日
    登録番号
    7465295
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 相分析装置、試料分析装置、および分析方法

    出願日
    2022年2月16日
    登録番号
    7476247
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 相分析装置、試料分析装置、および分析方法

    出願日
    2022年2月16日
    登録番号
    7476247
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 収差補正装置および電子顕微鏡

    出願日
    2022年2月10日
    登録番号
    7481378
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 収差補正装置および電子顕微鏡

    出願日
    2022年2月10日
    登録番号
    7481378
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 試料カートリッジ保持装置

    出願日
    2022年1月26日
    登録番号
    7414862
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 試料カートリッジ保持装置

    出願日
    2022年1月26日
    登録番号
    7414862
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 試料カートリッジ保持装置

    出願日
    2022年1月26日
    登録番号
    7414862
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 試料カートリッジ保持装置

    出願日
    2022年1月26日
    登録番号
    7414862
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法

    出願日
    2022年1月20日
    登録番号
    7407846
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法

    出願日
    2022年1月20日
    登録番号
    7407846
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法

    出願日
    2022年1月20日
    登録番号
    7407846
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法

    出願日
    2022年1月20日
    登録番号
    7407846
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法

    出願日
    2022年1月20日
    登録番号
    7407846
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法

    出願日
    2022年1月20日
    登録番号
    7407846
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 試料カートリッジ搬送システム

    出願日
    2021年12月23日
    登録番号
    7440484
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 試料カートリッジ搬送システム

    出願日
    2021年12月23日
    登録番号
    7440484
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 試料カートリッジ搬送システム

    出願日
    2021年12月23日
    登録番号
    7440484
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 試料カートリッジ搬送システム

    出願日
    2021年12月23日
    登録番号
    7440484
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 試料加工装置および試料加工方法

    出願日
    2021年12月20日
    登録番号
    7440483
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 試料加工装置および試料加工方法

    出願日
    2021年12月20日
    登録番号
    7440483
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. 試料加工装置および試料加工方法

    出願日
    2021年12月20日
    登録番号
    7440483
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 試料加工装置および試料加工方法

    出願日
    2021年12月20日
    登録番号
    7440483
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 試料加工装置および試料加工方法

    出願日
    2021年12月20日
    登録番号
    7440483
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）