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ローツェイアス株式会社

特許 全37件

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全37件 （1〜30件目を表示）

  1. 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法

    出願日
    2019年8月29日
    登録番号
    6695088
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法

    出願日
    2019年8月29日
    登録番号
    6695088
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法

    出願日
    2019年8月29日
    登録番号
    6695088
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法

    出願日
    2019年8月29日
    登録番号
    6695088
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 金属微粒子の分析方法および誘導結合プラズマ質量分析方法

    出願日
    2019年8月29日
    登録番号
    6695088
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 基板分析方法および基板分析装置

    出願日
    2018年12月26日
    登録番号
    6675652
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 基板分析方法および基板分析装置

    出願日
    2018年12月26日
    登録番号
    6675652
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 基板分析方法および基板分析装置

    出願日
    2018年12月26日
    登録番号
    6675652
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. シリコン基板の分析方法

    出願日
    2018年4月13日
    登録番号
    6603934
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. シリコン基板の分析方法

    出願日
    2018年4月13日
    登録番号
    6603934
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 基板分析用ノズル及び基板分析方法

    出願日
    2017年7月18日
    登録番号
    6418586
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 基板分析用ノズル及び基板分析方法

    出願日
    2017年7月18日
    登録番号
    6418586
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 基板分析用のノズル

    出願日
    2016年10月18日
    登録番号
    6156893
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 基板分析用のノズル

    出願日
    2016年10月18日
    登録番号
    6156893
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 基板分析用のノズル

    出願日
    2016年10月18日
    登録番号
    6156893
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 基板分析用のノズル

    出願日
    2016年10月18日
    登録番号
    6156893
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. ガス状水銀又はスチビンの測定方法及び測定装置

    出願日
    2016年4月27日
    登録番号
    6682088
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. ガス状水銀又はスチビンの測定方法及び測定装置

    出願日
    2016年4月27日
    登録番号
    6682088
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. シリコン基板用分析装置

    出願日
    2015年12月22日
    登録番号
    6108367
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. シリコン基板用分析装置

    出願日
    2015年12月22日
    登録番号
    6108367
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. シリコン基板用分析装置

    出願日
    2015年12月22日
    登録番号
    6108367
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. オンライン移送した分析試料の分析システム

    出願日
    2015年8月21日
    登録番号
    6048552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 元素分析方法

    出願日
    2015年1月5日
    登録番号
    6491883
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 元素分析方法

    出願日
    2015年1月5日
    登録番号
    6491883
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 元素分析方法

    出願日
    2015年1月5日
    登録番号
    6491883
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 元素分析方法

    出願日
    2015年1月5日
    登録番号
    6491883
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. シリコン基板の分析方法

    出願日
    2014年9月11日
    登録番号
    5904512
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. シリコン基板の分析方法

    出願日
    2014年9月11日
    登録番号
    5904512
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 基板局所の自動分析装置及び分析方法

    出願日
    2014年8月20日
    登録番号
    5971289
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 基板局所の自動分析装置及び分析方法

    出願日
    2014年8月20日
    登録番号
    5971289
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）