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株式会社アドバンテスト

特許 全436件

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全436件 （1〜30件目を表示）

  1. 電磁石、及び磁場印加システム

    出願日
    2023年4月11日
    登録番号
    7428996
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 試験方法、製造方法、パネルレベルパッケージおよび試験装置

    出願日
    2022年4月26日
    登録番号
    7281579
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 試験方法および製造方法

    出願日
    2022年4月26日
    登録番号
    7317176
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 試験方法および製造方法

    出願日
    2022年4月26日
    登録番号
    7317176
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 試験方法、製造方法、パネルレベルパッケージおよび試験装置

    出願日
    2022年4月26日
    登録番号
    7281579
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 試験方法および製造方法

    出願日
    2022年4月26日
    登録番号
    7317176
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 試験方法、製造方法、パネルレベルパッケージおよび試験装置

    出願日
    2022年4月26日
    登録番号
    7281579
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 試験用キャリア

    出願日
    2022年2月9日
    登録番号
    7109856
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 試験用キャリア

    出願日
    2022年2月9日
    登録番号
    7109856
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 自動試験装置（ＡＴＥ）を制御するための制御装置、ＡＴＥ、ＡＴＥを制御するための方法、ＡＴＥを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム

    出願日
    2021年9月30日
    登録番号
    7457208
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 自動試験装置（ＡＴＥ）を制御するための制御装置、ＡＴＥ、ＡＴＥを制御するための方法、ＡＴＥを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム

    出願日
    2021年9月30日
    登録番号
    7457208
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 自動試験装置（ＡＴＥ）を制御するための制御装置、ＡＴＥ、ＡＴＥを制御するための方法、ＡＴＥを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム

    出願日
    2021年9月30日
    登録番号
    7457208
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年9月8日
    登録番号
    7355789
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年9月8日
    登録番号
    7355789
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 試験用キャリア、及び、電子部品試験装置

    出願日
    2021年7月21日
    登録番号
    7143491
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 試験用キャリア、及び、電子部品試験装置

    出願日
    2021年7月21日
    登録番号
    7143491
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 柔軟な試験システムおよび方法

    出願日
    2021年7月5日
    登録番号
    7348236
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法

    出願日
    2021年4月28日
    登録番号
    7450804
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法

    出願日
    2021年4月28日
    登録番号
    7450804
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法

    出願日
    2021年4月28日
    登録番号
    7450804
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 拡張補助インタフェーステストシステムおよび方法

    出願日
    2021年3月15日
    登録番号
    7157197
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 拡張補助インタフェーステストシステムおよび方法

    出願日
    2021年3月15日
    登録番号
    7157197
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年2月26日
    登録番号
    7355773
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年2月26日
    登録番号
    7355773
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年2月26日
    登録番号
    7355773
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年2月26日
    登録番号
    7355773
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年1月21日
    登録番号
    7386190
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年1月21日
    登録番号
    7386190
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年1月13日
    登録番号
    7374937
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 試験装置、試験方法およびプログラム

    出願日
    2021年1月13日
    登録番号
    7374937
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）