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有限会社スペクトルデザイン

特許 全6件

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全6件 （1〜6件目を表示）

  1. 検出装置

    出願日
    2017年9月4日
    登録番号
    7140319
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 周波数シフトテラヘルツ波発生装置及び発生方法、周波数シフトテラヘルツ波計測装置及び計測方法、断層状態検出装置及び検出方法、サンプル特性計測装置、計測方法

    出願日
    2017年5月11日
    登録番号
    6877713
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 周波数シフトテラヘルツ波発生装置及び発生方法、周波数シフトテラヘルツ波計測装置及び計測方法、断層状態検出装置及び検出方法、サンプル特性計測装置、計測方法

    出願日
    2017年5月11日
    登録番号
    6877713
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 周波数シフトテラヘルツ波発生装置及び発生方法、周波数シフトテラヘルツ波計測装置及び計測方法、断層状態検出装置及び検出方法、サンプル特性計測装置、計測方法

    出願日
    2017年5月11日
    登録番号
    6877713
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 周波数シフトテラヘルツ波発生装置及び発生方法、周波数シフトテラヘルツ波計測装置及び計測方法、断層状態検出装置及び検出方法、サンプル特性計測装置、計測方法

    出願日
    2017年5月11日
    登録番号
    6877713
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 電磁波の偏光方位計測方法及び装置

    出願日
    2014年9月3日
    登録番号
    6407635
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）