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株式会社ヒューモラボラトリー

特許 全34件

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全34件 （1〜30件目を表示）

  1. チップ電子部品検査用のローラ電極接触子を備えた装置

    出願日
    2020年8月28日
    登録番号
    7107589
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. チップ電子部品検査用のローラ電極接触子を備えた装置

    出願日
    2020年8月28日
    登録番号
    7107589
    技術分野
    運搬；包装；貯蔵；薄板状または線条材料の取扱い
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. チップ電子部品検査用のローラ電極接触子を備えた装置

    出願日
    2020年8月28日
    登録番号
    7107589
    技術分野
    固体相互の分離；仕分け
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. チップ電子部品検査用のローラ電極接触子を備えた装置

    出願日
    2020年8月28日
    登録番号
    7107589
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. チップ電子部品検査選別装置用のチップ電子部品搬送円盤

    出願日
    2020年6月2日
    登録番号
    7075139
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. チップ電子部品検査選別装置用のチップ電子部品搬送円盤

    出願日
    2020年6月2日
    登録番号
    7075139
    技術分野
    運搬；包装；貯蔵；薄板状または線条材料の取扱い
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. チップ電子部品検査選別装置用のチップ電子部品搬送円盤

    出願日
    2020年6月2日
    登録番号
    7075139
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. チップ電子部品検査選別装置用のチップ電子部品搬送円盤

    出願日
    2020年6月2日
    登録番号
    7075139
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. チップ電子部品検査選別装置用のチップ電子部品搬送円盤

    出願日
    2020年6月2日
    登録番号
    7075139
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. チップ電子部品検査選別装置用のチップ電子部品搬送円盤

    出願日
    2020年6月2日
    登録番号
    7075139
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. チップ電子部品の検査選別方法

    出願日
    2017年10月2日
    登録番号
    6679552
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. チップ電子部品の検査選別方法

    出願日
    2017年10月2日
    登録番号
    6679552
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. チップ電子部品の検査選別方法

    出願日
    2017年10月2日
    登録番号
    6679552
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法

    出願日
    2016年9月30日
    登録番号
    6727651
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 三つ以上の電極を備えたチップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2015年1月27日
    登録番号
    6496151
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 三つ以上の電極を備えたチップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2015年1月27日
    登録番号
    6496151
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 三つ以上の電極を備えたチップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2015年1月27日
    登録番号
    6496151
    技術分野
    固体相互の分離；仕分け
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 三つ以上の電極を備えたチップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2015年1月27日
    登録番号
    6496151
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 三つ以上の電極を備えたチップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2015年1月27日
    登録番号
    6496151
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. チップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2014年12月26日
    登録番号
    6506552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. チップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2014年12月26日
    登録番号
    6506552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. チップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2014年12月26日
    登録番号
    6506552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. チップ電子部品検査選別装置

    出願日
    2014年12月26日
    登録番号
    6506552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）