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株式会社システムロード

特許 全8件

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全8件 (1〜8件目を表示)

  1. 光学測定方法およびその装置

    出願日
    2019年10月9日
    登録番号
    6928938
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. 膜厚測定方法およびその装置

    出願日
    2019年7月16日
    登録番号
    6912045
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. 光学特性測定用の遮光装置およびこれを備えた光学特性測定システム

    出願日
    2015年4月10日
    登録番号
    6505491
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  4. 光学特性測定用の遮光装置およびこれを備えた光学特性測定システム

    出願日
    2015年4月10日
    登録番号
    6505491
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  5. 光学特性測定用の遮光装置およびこれを備えた光学特性測定システム

    出願日
    2015年4月10日
    登録番号
    6505491
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  6. 検査装置

    出願日
    2014年9月26日
    登録番号
    6474148
    技術分野
    医学または獣医学;衛生学
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  7. 検査装置

    出願日
    2014年9月26日
    登録番号
    6474148
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  8. 検査装置

    出願日
    2014年9月26日
    登録番号
    6474148
    技術分野
    医学または獣医学;衛生学
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)