特許 全30件

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1. マルチビーム画像生成装置およびマルチビーム画像生成方法

   出願日

   2020年5月19日

   登録番号

   7477364

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

2. マルチビーム画像生成装置およびマルチビーム画像生成方法

   出願日

   2020年4月22日

   登録番号

   7428578

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

3. リターディング電圧を用いた電子線検査装置

   出願日

   2019年11月22日

   登録番号

   7394599

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

4. リターディング電圧を用いた電子線検査装置

   出願日

   2019年11月22日

   登録番号

   7394599

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

5. リターディング電圧を用いた電子線検査装置

   出願日

   2019年11月22日

   登録番号

   7394599

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

6. リターディング電圧を用いた電子線検査装置

   出願日

   2019年11月22日

   登録番号

   7394599

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

7. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

   出願日

   2019年9月20日

   登録番号

   7294971

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

8. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

   出願日

   2019年9月20日

   登録番号

   7294971

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

9. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

   出願日

   2019年9月20日

   登録番号

   7294971

   技術分野

   基本的電気素子

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

10. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

    出願日

    2019年9月20日

    登録番号

    7294971

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

11. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

    出願日

    2019年9月20日

    登録番号

    7294971

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

12. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

    出願日

    2019年9月20日

    登録番号

    7294971

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

13. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

    出願日

    2019年9月20日

    登録番号

    7294971

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

14. 電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法

    出願日

    2018年10月2日

    登録番号

    7368576

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

15. 電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法

    出願日

    2018年10月2日

    登録番号

    7157508

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

16. 電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法

    出願日

    2018年10月2日

    登録番号

    7157508

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

17. 電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法

    出願日

    2018年10月2日

    登録番号

    7157508

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

18. 電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法

    出願日

    2018年10月2日

    登録番号

    7157508

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

19. 電子検出装置

    出願日

    2018年4月13日

    登録番号

    7474372

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

20. 電子検出装置

    出願日

    2018年4月13日

    登録番号

    7474372

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

21. 電子検出装置

    出願日

    2018年4月13日

    登録番号

    7304461

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

22. 電子検出装置

    出願日

    2018年4月13日

    登録番号

    7474372

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

23. 電子ビーム・イオン発生装置および電子ビーム・イオン発生方法

    出願日

    2017年4月21日

    登録番号

    7253647

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

24. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

    出願日

    2017年4月21日

    登録番号

    7313499

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

25. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

    出願日

    2017年4月21日

    登録番号

    7313499

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

26. 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の２次電子検出方法

    出願日

    2017年4月21日

    登録番号

    7313499

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

27. 電子ビーム・イオン発生装置および電子ビーム・イオン発生方法

    出願日

    2017年4月21日

    登録番号

    7253647

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

28. 電子ビーム・イオン発生装置および電子ビーム・イオン発生方法

    出願日

    2017年4月21日

    登録番号

    7253647

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

29. サンプル傾斜自動補正装置およびサンプル傾斜自動補正方法

    出願日

    2017年2月24日

    登録番号

    7280237

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

30. サンプル傾斜自動補正装置およびサンプル傾斜自動補正方法

    出願日

    2017年2月24日

    登録番号

    7280237

    技術分野

    基本的電気素子

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）