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ハマダレクテック株式会社

特許 全17件

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全17件 （1〜17件目を表示）

  1. ウェハー膜種自動判定システム及びウェハー自動分類装置

    出願日
    2022年11月21日
    登録番号
    7461444
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. ウェハー膜種自動判定システム及びウェハー自動分類装置

    出願日
    2022年11月21日
    登録番号
    7461444
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. ウェハー膜種自動判定システム及びウェハー自動分類装置

    出願日
    2022年11月21日
    登録番号
    7461444
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. ウェハー膜種自動判定システム及びウェハー自動分類装置

    出願日
    2022年11月21日
    登録番号
    7461444
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 研磨液

    出願日
    2018年5月25日
    登録番号
    6744611
    技術分野
    染料；ペイント；つや出し剤；天然樹脂；接着剤；他に分類されない組成物；他に分類されない材料の応用
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 研磨液

    出願日
    2018年5月25日
    登録番号
    6744611
    技術分野
    染料；ペイント；つや出し剤；天然樹脂；接着剤；他に分類されない組成物；他に分類されない材料の応用
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 研磨液

    出願日
    2018年5月25日
    登録番号
    6744611
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 研磨液

    出願日
    2018年5月25日
    登録番号
    6744611
    技術分野
    染料；ペイント；つや出し剤；天然樹脂；接着剤；他に分類されない組成物；他に分類されない材料の応用
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 研磨液

    出願日
    2018年5月25日
    登録番号
    6744611
    技術分野
    染料；ペイント；つや出し剤；天然樹脂；接着剤；他に分類されない組成物；他に分類されない材料の応用
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 研磨液

    出願日
    2018年5月25日
    登録番号
    6744611
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 単結晶ＳｉＣウェハのウェットエッチング方法及びウェットエッチング装置

    出願日
    2015年8月19日
    登録番号
    6379076
    技術分野
    結晶成長
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 単結晶ＳｉＣウェハのウェットエッチング方法及びウェットエッチング装置

    出願日
    2015年8月19日
    登録番号
    6379076
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 単結晶ＳｉＣウェハのウェットエッチング方法及びウェットエッチング装置

    出願日
    2015年8月19日
    登録番号
    6379076
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 半導体ウェハの加工ダメージ評価方法

    出願日
    2015年7月30日
    登録番号
    6373233
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 半導体ウェハの加工ダメージ評価方法

    出願日
    2015年7月30日
    登録番号
    6373233
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 半導体ウェハの加工ダメージ評価方法

    出願日
    2015年7月30日
    登録番号
    6373233
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 半導体ウェハの加工ダメージ評価方法

    出願日
    2015年7月30日
    登録番号
    6373233
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）