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夏目光学株式会社

特許 全9件

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全9件 （1〜9件目を表示）

  1. 反射型Ｘ線光学素子、該反射型Ｘ線光学素子を用いたＸ線集光システム、および該反射型Ｘ線光学素子の製造方法

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7417027
    技術分野
    核物理；核工学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 反射型Ｘ線光学素子、該反射型Ｘ線光学素子を用いたＸ線集光システム、および該反射型Ｘ線光学素子の製造方法

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7417027
    技術分野
    核物理；核工学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 反射型Ｘ線光学素子、該反射型Ｘ線光学素子を用いたＸ線集光システム、および該反射型Ｘ線光学素子の製造方法

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7417027
    技術分野
    核物理；核工学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 反射型Ｘ線光学素子、該反射型Ｘ線光学素子を用いたＸ線集光システム、および該反射型Ｘ線光学素子の製造方法

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7417027
    技術分野
    核物理；核工学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 反射型Ｘ線光学素子、該反射型Ｘ線光学素子を用いたＸ線集光システム、および該反射型Ｘ線光学素子の製造方法

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7417027
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 局所研磨加工方法、および局所研磨加工装置、並びに該局所研磨加工装置を用いた修正研磨加工装置

    出願日
    2018年8月9日
    登録番号
    6446590
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 局所研磨加工方法、および局所研磨加工装置、並びに該局所研磨加工装置を用いた修正研磨加工装置

    出願日
    2018年8月9日
    登録番号
    6446590
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 局所研磨加工方法、および局所研磨加工装置、並びに該局所研磨加工装置を用いた修正研磨加工装置

    出願日
    2018年8月9日
    登録番号
    6446590
    技術分野
    研削；研磨
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 局所研磨加工方法、および局所研磨加工装置、並びに該局所研磨加工装置を用いた修正研磨加工装置

    出願日
    2018年8月9日
    登録番号
    6446590
    技術分野
    染料；ペイント；つや出し剤；天然樹脂；接着剤；他に分類されない組成物；他に分類されない材料の応用
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）