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株式会社東京測器研究所

特許 全7件

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全7件 （1〜7件目を表示）

  1. 変位量測定システム及び変位量測定方法

    出願日
    2015年5月19日
    登録番号
    6397369
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 変位量測定システム及び変位量測定方法

    出願日
    2015年5月19日
    登録番号
    6397369
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 変位量測定システム及び変位量測定方法

    出願日
    2015年5月19日
    登録番号
    6397369
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. ひずみゲージ用合金及びひずみゲージ

    出願日
    2014年10月3日
    登録番号
    6162670
    技術分野
    冶金；鉄または非鉄合金；合金の処理または非鉄金属の処理
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. ひずみゲージ用合金及びひずみゲージ

    出願日
    2014年10月3日
    登録番号
    6162670
    技術分野
    冶金；鉄または非鉄合金；合金の処理または非鉄金属の処理
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. ひずみゲージ用合金及びひずみゲージ

    出願日
    2014年10月3日
    登録番号
    6162670
    技術分野
    鉄冶金
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. ひずみゲージ用合金及びひずみゲージ

    出願日
    2014年10月3日
    登録番号
    6162670
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）