プルミアム
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株式会社常光

特許 全66件

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全66件 （1〜30件目を表示）

  1. カセットホルダ

    出願日
    2021年9月29日
    登録番号
    7068738
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. カセットホルダ

    出願日
    2021年9月29日
    登録番号
    7068738
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 薄片化黒鉛の製造方法

    出願日
    2021年4月15日
    登録番号
    7466125
    技術分野
    無機化学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 印字装置

    出願日
    2020年10月21日
    登録番号
    7252649
    技術分野
    工作機械；他に分類されない金属加工
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 印字装置

    出願日
    2020年10月21日
    登録番号
    7252649
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 陰イオン選択性電極用応答膜の製造方法及び陰イオン選択性電極用応答膜

    出願日
    2020年10月5日
    登録番号
    6996781
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. ラベル貼付装置

    出願日
    2020年10月5日
    登録番号
    7458073
    技術分野
    運搬；包装；貯蔵；薄板状または線条材料の取扱い
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 陰イオン選択性電極用応答膜の製造方法及び陰イオン選択性電極用応答膜

    出願日
    2020年10月5日
    登録番号
    6996781
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. パラフィン包埋ブロック作製装置

    出願日
    2020年9月30日
    登録番号
    7014460
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. パラフィン包埋ブロック作製装置

    出願日
    2020年9月30日
    登録番号
    7014460
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器

    出願日
    2020年7月31日
    登録番号
    6842790
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器

    出願日
    2020年7月31日
    登録番号
    6842790
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器

    出願日
    2020年7月31日
    登録番号
    6842790
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 二次電池の正極材料及びその製造方法

    出願日
    2020年2月7日
    登録番号
    7445962
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 二次電池の正極材料及びその製造方法

    出願日
    2020年2月7日
    登録番号
    7445962
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 二次電池の正極材料及びその製造方法

    出願日
    2020年2月7日
    登録番号
    7445962
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 二次電池の正極材料及びその製造方法

    出願日
    2020年2月7日
    登録番号
    7445962
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 分光計測装置及び分光計測方法

    出願日
    2020年1月15日
    登録番号
    7457998
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 分光計測装置及び分光計測方法

    出願日
    2020年1月15日
    登録番号
    7457998
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 凍結検体薄切装置

    出願日
    2019年10月30日
    登録番号
    7294587
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 凍結検体薄切装置

    出願日
    2019年10月30日
    登録番号
    7391299
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 凍結検体薄切装置

    出願日
    2019年10月30日
    登録番号
    7294587
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 凍結検体薄切装置

    出願日
    2019年10月30日
    登録番号
    7294587
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 凍結検体薄切装置

    出願日
    2019年10月30日
    登録番号
    7294587
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 画像表示システム

    出願日
    2019年5月22日
    登録番号
    7311099
    技術分野
    教育；暗号方法；表示；広告；シール
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 画像表示システム

    出願日
    2019年5月22日
    登録番号
    7311099
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 画像表示システム

    出願日
    2019年5月22日
    登録番号
    7311099
    技術分野
    教育；暗号方法；表示；広告；シール
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. 画像表示システム

    出願日
    2019年5月22日
    登録番号
    7311099
    技術分野
    教育；暗号方法；表示；広告；シール
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 画像表示システム

    出願日
    2019年5月22日
    登録番号
    7311099
    技術分野
    教育；暗号方法；表示；広告；シール
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 画像表示システム

    出願日
    2019年5月22日
    登録番号
    7311099
    技術分野
    教育；暗号方法；表示；広告；シール
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）