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株式会社ヒカリ
特許 全3件
プルミアムが取得した明細を新しい日付順に掲載しています。30件ずつ表示し、最終ページまで確認できます。
全3件 (1〜3件目を表示)
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変位量計測方法、変位量計測装置、変位量計測システム、および、変位量計測プログラム
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
2次元格子パターンを用いる面外変位計測方法およびその装置
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
計測装置及び橋梁検査方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)