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株式会社ヒカリ

特許 全3件

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全3件 (1〜3件目を表示)

  1. 変位量計測方法、変位量計測装置、変位量計測システム、および、変位量計測プログラム

    出願日
    2022年3月30日
    登録番号
    7315936
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. 2次元格子パターンを用いる面外変位計測方法およびその装置

    出願日
    2018年3月1日
    登録番号
    7078928
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. 計測装置及び橋梁検査方法

    出願日
    2014年1月30日
    登録番号
    6323929
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)