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株式会社大日本精機

特許 全3件

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全3件 (1〜3件目を表示)

  1. 薄切片試料評価装置、該薄切片試料評価装置を含む薄切片試料作製装置、及び、薄切片試料評価方法

    出願日
    2014年9月29日
    登録番号
    6483022
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. 薄切片試料評価装置、該薄切片試料評価装置を含む薄切片試料作製装置、及び、薄切片試料評価方法

    出願日
    2014年9月29日
    登録番号
    6483022
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. 薄切片試料作製装置及び薄切片試料作製方法

    出願日
    2014年9月25日
    登録番号
    6476123
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)