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株式会社アルバック
特許 全2278件
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全2278件 (1〜30件目を表示)
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真空処理装置、静電チャック及び搬送ローラ
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
真空処理装置、静電チャック及び搬送ローラ
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
真空処理装置、静電チャック及び搬送ローラ
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜、半導体デバイス及びその製造方法、並びにスパッタリングターゲット及びスパッタリングターゲットの製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜、半導体デバイス及びその製造方法、並びにスパッタリングターゲット及びスパッタリングターゲットの製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜、半導体デバイス及びその製造方法、並びにスパッタリングターゲット及びスパッタリングターゲットの製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜、半導体デバイス及びその製造方法、並びにスパッタリングターゲット及びスパッタリングターゲットの製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜、半導体デバイス及びその製造方法、並びにスパッタリングターゲット及びスパッタリングターゲットの製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜、半導体デバイス及びその製造方法、並びにスパッタリングターゲット及びスパッタリングターゲットの製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
電子ビーム式蒸着ユニット
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
電子ビーム式蒸着ユニット
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜形成用スパッタリングターゲット、酸化物半導体薄膜形成用スパッタリングターゲットの製造方法、酸化物半導体薄膜、薄膜半導体装置及びその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜形成用スパッタリングターゲット、酸化物半導体薄膜形成用スパッタリングターゲットの製造方法、酸化物半導体薄膜、薄膜半導体装置及びその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜形成用スパッタリングターゲット、酸化物半導体薄膜形成用スパッタリングターゲットの製造方法、酸化物半導体薄膜、薄膜半導体装置及びその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
真空蒸着装置用の蒸着源
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
真空蒸着装置用の蒸着源
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
真空蒸着装置用の蒸着源
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
ターゲット組立体およびターゲット組立体の製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
ターゲット組立体およびターゲット組立体の製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
モリブデンターゲットおよびその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
モリブデンターゲットおよびその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
モリブデンターゲットおよびその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
モリブデンターゲットおよびその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
モリブデンターゲットおよびその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
モリブデンターゲットおよびその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
モリブデンターゲットおよびその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
表示装置、表示方法、及びプログラム
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜積層体及びその製造方法、薄膜半導体装置及びその製造方法、及びスパッタリングターゲット及びその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜積層体及びその製造方法、薄膜半導体装置及びその製造方法、及びスパッタリングターゲット及びその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ) -
酸化物半導体薄膜積層体及びその製造方法、薄膜半導体装置及びその製造方法、及びスパッタリングターゲット及びその製造方法
取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)