プルミアム
← 東レエンジニアリング先端半導体ＭＩテクノロジー株式会社の企業情報へ戻る

東レエンジニアリング先端半導体ＭＩテクノロジー株式会社

特許 全31件

プルミアムが取得した明細を新しい日付順に掲載しています。30件ずつ表示し、最終ページまで確認できます。

全31件 （1〜30件目を表示）

  1. パターンマッチング方法

    出願日
    2021年4月9日
    登録番号
    7405959
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. パターンマッチング方法

    出願日
    2021年4月9日
    登録番号
    7405959
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. パターンエッジ検出方法、パターンエッジ検出装置、パターンエッジ検出をコンピュータに実行させるためのプログラムが記録された記録媒体

    出願日
    2020年12月4日
    登録番号
    7451384
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. パターンエッジ検出方法、パターンエッジ検出装置、パターンエッジ検出をコンピュータに実行させるためのプログラムが記録された記録媒体

    出願日
    2020年12月4日
    登録番号
    7451384
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. パターン測定方法

    出願日
    2020年5月20日
    登録番号
    7303155
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. パターン測定方法

    出願日
    2020年5月20日
    登録番号
    7303155
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. パターン欠陥検出方法

    出願日
    2020年4月30日
    登録番号
    7451287
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. パターン欠陥検出方法

    出願日
    2020年4月30日
    登録番号
    7451287
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. パターン欠陥検出方法

    出願日
    2020年4月30日
    登録番号
    7451287
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 走査電子顕微鏡および画像生成方法

    出願日
    2020年3月26日
    登録番号
    7469097
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 走査電子顕微鏡および画像生成方法

    出願日
    2020年3月26日
    登録番号
    7469097
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. ウェハパターンのエッジと基準パターンのエッジとの乖離量と基準パターンのスペース幅との関係を示す補正線を生成する方法および装置、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体

    出願日
    2018年3月30日
    登録番号
    7072844
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. ウェハパターンのエッジと基準パターンのエッジとの乖離量と基準パターンのスペース幅との関係を示す補正線を生成する方法および装置、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体

    出願日
    2018年3月30日
    登録番号
    7072844
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. ウェハパターンのエッジと基準パターンのエッジとの乖離量と基準パターンのスペース幅との関係を示す補正線を生成する方法および装置、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体

    出願日
    2018年3月30日
    登録番号
    7072844
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. パターンエッジ検出方法

    出願日
    2018年3月27日
    登録番号
    6964031
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. パターンエッジ検出方法

    出願日
    2018年3月27日
    登録番号
    6964031
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 反射電子のエネルギースペクトルを測定する装置および方法

    出願日
    2018年3月6日
    登録番号
    7017437
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 反射電子のエネルギースペクトルを測定する装置および方法

    出願日
    2018年3月6日
    登録番号
    7017437
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 反射電子のエネルギースペクトルを測定する装置および方法

    出願日
    2018年3月6日
    登録番号
    7017437
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 反射電子のエネルギースペクトルを測定する装置および方法

    出願日
    2018年3月6日
    登録番号
    7017437
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 反射電子のエネルギースペクトルを測定する装置および方法

    出願日
    2018年3月6日
    登録番号
    7017437
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 反射電子のエネルギースペクトルを測定する装置および方法

    出願日
    2018年3月6日
    登録番号
    7017437
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 走査電子顕微鏡のオートフォーカス方法

    出願日
    2018年2月7日
    登録番号
    6953324
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 走査電子顕微鏡のオートフォーカス方法

    出願日
    2018年2月7日
    登録番号
    6953324
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 走査電子顕微鏡のオートフォーカス方法

    出願日
    2018年2月7日
    登録番号
    6953324
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 画像生成方法

    出願日
    2017年8月31日
    登録番号
    7107653
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 走査電子顕微鏡の操作パラメータを検証する方法

    出願日
    2017年6月29日
    登録番号
    6882097
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. パターン欠陥検出方法

    出願日
    2017年6月23日
    登録番号
    6932565
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. パターン欠陥検出方法

    出願日
    2017年6月23日
    登録番号
    6932565
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. パターン検査装置の検査結果の度数分布形状に関する情報を活用する方法

    出願日
    2017年6月23日
    登録番号
    6900252
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）