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株式会社リガク

特許 全335件

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全335件 （1〜30件目を表示）

  1. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2022年6月13日
    登録番号
    7458658
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2022年1月13日
    登録番号
    7464999
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2022年1月13日
    登録番号
    7464999
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 構造情報取得方法及び構造情報取得装置

    出願日
    2021年11月24日
    登録番号
    7454541
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. ピーク同定解析プログラム及び蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2021年10月28日
    登録番号
    7325849
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. ピーク同定解析プログラム及び蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2021年10月28日
    登録番号
    7325849
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. Ｘ線分析装置及び波高値予測プログラム

    出願日
    2021年8月24日
    登録番号
    7218958
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. Ｘ線分析装置及び波高値予測プログラム

    出願日
    2021年8月24日
    登録番号
    7218958
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

    出願日
    2021年6月24日
    登録番号
    7344583
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

    出願日
    2021年6月24日
    登録番号
    7344583
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

    出願日
    2021年6月24日
    登録番号
    7344583
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

    出願日
    2021年6月24日
    登録番号
    7344583
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

    出願日
    2021年6月24日
    登録番号
    7344583
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

    出願日
    2021年6月24日
    登録番号
    7344583
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2021年6月8日
    登録番号
    7233756
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2021年6月8日
    登録番号
    7233756
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. Ｘ線画像生成装置

    出願日
    2021年5月17日
    登録番号
    7460577
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 放射線測定装置

    出願日
    2021年3月22日
    登録番号
    7485872
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 放射線測定装置

    出願日
    2021年3月22日
    登録番号
    7485872
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 混合物の回折パターン分析方法、装置、プログラム及び情報記憶媒体

    出願日
    2020年12月11日
    登録番号
    7414280
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 混合物の回折パターン分析方法、装置、プログラム及び情報記憶媒体

    出願日
    2020年12月11日
    登録番号
    7414280
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 全反射蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2020年12月1日
    登録番号
    7100910
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置、評価方法及び評価プログラム

    出願日
    2020年11月30日
    登録番号
    6917668
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2020年11月30日
    登録番号
    7178725
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2020年11月30日
    登録番号
    7178725
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2020年11月30日
    登録番号
    7178725
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 層厚解析方法

    出願日
    2020年11月24日
    登録番号
    7481238
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. 層厚解析方法

    出願日
    2020年11月24日
    登録番号
    7481238
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2020年10月30日
    登録番号
    7190751
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 蛍光Ｘ線分析装置

    出願日
    2020年10月30日
    登録番号
    7249666
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）