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株式会社日本マイクロニクス

特許 全339件

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全339件 （1〜30件目を表示）

  1. 検査用接続装置

    出願日
    2020年8月3日
    登録番号
    7477393
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 検査用接続装置

    出願日
    2020年8月3日
    登録番号
    7477393
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 検査用接続装置

    出願日
    2020年8月3日
    登録番号
    7477393
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 検査用接続装置

    出願日
    2020年8月3日
    登録番号
    7477393
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 電気的接続装置および検査方法

    出願日
    2020年4月8日
    登録番号
    7421990
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 電気的接続装置および検査方法

    出願日
    2020年4月8日
    登録番号
    7421990
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 電気的接続装置および検査方法

    出願日
    2020年4月8日
    登録番号
    7421990
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. プローブおよび電気的接続装置

    出願日
    2020年4月6日
    登録番号
    7372194
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. プローブおよび電気的接続装置

    出願日
    2020年4月6日
    登録番号
    7372194
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. プローブおよび電気的接続装置

    出願日
    2020年4月6日
    登録番号
    7372194
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. プローブおよび電気的接続装置

    出願日
    2020年4月6日
    登録番号
    7372194
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 光プローブ、プローブカード、測定システムおよび測定方法

    出願日
    2020年1月14日
    登録番号
    7426242
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 光プローブ、プローブカード、測定システムおよび測定方法

    出願日
    2020年1月14日
    登録番号
    7426242
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 光プローブ、プローブカード、測定システムおよび測定方法

    出願日
    2020年1月14日
    登録番号
    7426242
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 光プローブ、プローブカード、測定システムおよび測定方法

    出願日
    2020年1月14日
    登録番号
    7426242
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 水酸化ニッケル薄膜の製造方法

    出願日
    2020年1月6日
    登録番号
    7486732
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 水酸化ニッケル薄膜の製造方法

    出願日
    2020年1月6日
    登録番号
    7486732
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 水酸化ニッケル薄膜の製造方法

    出願日
    2020年1月6日
    登録番号
    7486732
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 水酸化ニッケル薄膜の製造方法

    出願日
    2020年1月6日
    登録番号
    7486732
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 水酸化ニッケル薄膜の製造方法

    出願日
    2020年1月6日
    登録番号
    7486732
    技術分野
    無機化学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 水酸化ニッケル薄膜の製造方法

    出願日
    2020年1月6日
    登録番号
    7486732
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 水酸化ニッケル薄膜の製造方法

    出願日
    2020年1月6日
    登録番号
    7486732
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 測定システム

    出願日
    2019年11月18日
    登録番号
    7346259
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 測定システム

    出願日
    2019年11月18日
    登録番号
    7346259
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 測定システム

    出願日
    2019年11月18日
    登録番号
    7346259
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 検査プローブ、検査プローブの製造方法および検査装置

    出願日
    2019年10月17日
    登録番号
    7443017
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 検査プローブ、検査プローブの製造方法および検査装置

    出願日
    2019年10月17日
    登録番号
    7443017
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. 検査プローブ、検査プローブの製造方法および検査装置

    出願日
    2019年10月17日
    登録番号
    7443017
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 検査プローブ、検査プローブの製造方法および検査装置

    出願日
    2019年10月17日
    登録番号
    7443017
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 光プローブ、光プローブアレイ、検査システムおよび検査方法

    出願日
    2019年10月4日
    登録番号
    7402652
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）