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株式会社ジェイ・サイエンス・ラボ

特許 全16件

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全16件 （1〜16件目を表示）

  1. 昇温脱離分析装置

    出願日
    2019年11月28日
    登録番号
    7406232
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 昇温脱離分析装置

    出願日
    2019年11月28日
    登録番号
    7406232
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 昇温脱離分析法における液体窒素を用いた冷却機構付低温式昇温炉

    出願日
    2019年4月26日
    登録番号
    7076742
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 昇温脱離分析法における液体窒素を用いた冷却機構付低温式昇温炉

    出願日
    2019年4月26日
    登録番号
    7076742
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. プラズマ処理装置

    出願日
    2017年10月11日
    登録番号
    7072207
    技術分野
    物理的または化学的方法または装置一般
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. プラズマ処理装置

    出願日
    2017年10月11日
    登録番号
    7072207
    技術分野
    他に分類されない電気技術
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 全イオウおよび全ハロゲン連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6712012
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 全イオウおよび全ハロゲン連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6712012
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 全イオウおよび全ハロゲン連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6712012
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 全イオウ連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6697192
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 全イオウ連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6697192
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 全イオウ連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6697192
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 全イオウおよび全ハロゲン連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6712012
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 全イオウ連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6697192
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 全イオウ連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6697192
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 全イオウおよび全ハロゲン連続濃縮測定システム

    出願日
    2016年5月17日
    登録番号
    6712012
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）