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日本装置開発株式会社

特許 全7件

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全7件 （1〜7件目を表示）

  1. Ｘ線検査装置

    出願日
    2021年10月7日
    登録番号
    7100936
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. Ｘ線検査装置用の回転機構、Ｘ線検査装置およびＸ線検査装置用の回転機構の調整方法

    出願日
    2020年11月26日
    登録番号
    6955802
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. ワーク検査装置及びワーク検査方法

    出願日
    2017年10月19日
    登録番号
    7026478
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. Ｘ線検査装置

    出願日
    2017年10月17日
    登録番号
    6708857
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. Ｘ線検査装置

    出願日
    2017年10月17日
    登録番号
    6708857
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. Ｘ線検査装置およびＸ線検査装置の制御方法

    出願日
    2017年4月14日
    登録番号
    6781481
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. Ｘ線検査装置およびＸ線検査装置の調整方法

    出願日
    2015年1月20日
    登録番号
    6376698
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）