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株式会社東栄科学産業

特許 全24件

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全24件 （1〜24件目を表示）

  1. 電磁石、及び磁場印加システム

    出願日
    2023年4月11日
    登録番号
    7428996
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 電磁石、磁場印加システム

    出願日
    2020年2月21日
    登録番号
    6892161
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 電磁石、磁場印加システム

    出願日
    2020年2月21日
    登録番号
    6892161
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7389434
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7389434
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7389434
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7389434
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7389434
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7389434
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 試験装置

    出願日
    2020年2月10日
    登録番号
    7323127
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 電磁石、磁場印加システム

    出願日
    2018年10月12日
    登録番号
    6473546
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 磁歪計測装置、磁歪計測方法

    出願日
    2016年7月4日
    登録番号
    6289552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 磁歪計測装置、磁歪計測方法

    出願日
    2016年7月4日
    登録番号
    6289552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 磁歪計測装置、磁歪計測方法

    出願日
    2016年7月4日
    登録番号
    6289552
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 磁歪計測装置、磁歪計測方法

    出願日
    2016年7月4日
    登録番号
    6371453
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. プローバチャック、磁気メモリ用プローバチャック及びプローバ

    出願日
    2015年3月30日
    登録番号
    6486747
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. プローバチャック、磁気メモリ用プローバチャック及びプローバ

    出願日
    2015年3月30日
    登録番号
    6486747
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）