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1. 光学測定方法および光学測定システム

   出願日

   2021年11月8日

   登録番号

   7157505

   技術分野

   写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

2. 光学測定方法および光学測定システム

   出願日

   2021年11月8日

   登録番号

   7157505

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

3. 光学測定方法および光学測定システム

   出願日

   2021年11月8日

   登録番号

   7157505

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

4. 光学測定方法および光学測定システム

   出願日

   2021年11月8日

   登録番号

   7157505

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

5. 光学測定システム、光学測定方法および測定プログラム

   出願日

   2020年9月1日

   登録番号

   7055523

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

6. ゼータ電位測定用治具

   出願日

   2020年4月16日

   登録番号

   7440331

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

7. ゼータ電位測定用治具

   出願日

   2020年4月16日

   登録番号

   7440331

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

8. 光学測定システム、多層膜製造装置および光学測定方法

   出願日

   2020年4月14日

   登録番号

   6925062

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

9. 光学測定システム、多層膜製造装置および光学測定方法

   出願日

   2020年4月14日

   登録番号

   6925062

   技術分野

   測定；試験

   取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

10. 光学測定システム、多層膜製造装置および光学測定方法

    出願日

    2020年4月14日

    登録番号

    6925062

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

11. 光学測定システムおよび光学測定方法

    出願日

    2020年4月8日

    登録番号

    6758736

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

12. 粒子径測定方法、粒子径測定装置及び粒子径測定プログラム

    出願日

    2020年4月6日

    登録番号

    7365955

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

13. 粒子径測定方法、粒子径測定装置及び粒子径測定プログラム

    出願日

    2020年4月6日

    登録番号

    7365955

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

14. 粒子径測定方法、粒子径測定装置及び粒子径測定プログラム

    出願日

    2020年4月6日

    登録番号

    7365955

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

15. 光学測定方法、光学測定装置及び光学測定プログラム

    出願日

    2020年3月12日

    登録番号

    7483423

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

16. 光学測定方法、光学測定装置及び光学測定プログラム

    出願日

    2020年3月12日

    登録番号

    7483423

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

17. 光学測定装置のリニアリティ補正方法、光学測定方法及び光学測定装置

    出願日

    2019年11月14日

    登録番号

    7419029

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

18. 光学測定装置のリニアリティ補正方法、光学測定方法及び光学測定装置

    出願日

    2019年11月14日

    登録番号

    7419029

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

19. 膜厚測定装置および膜厚測定方法

    出願日

    2019年11月11日

    登録番号

    7358204

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

20. 光学測定方法および処理装置

    出願日

    2019年10月30日

    登録番号

    7279937

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

21. 光学測定方法および処理装置

    出願日

    2019年10月30日

    登録番号

    7279937

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

22. 光学測定装置および波長校正方法

    出願日

    2019年10月25日

    登録番号

    7382629

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

23. 光学測定装置および波長校正方法

    出願日

    2019年10月25日

    登録番号

    7382629

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

24. 光学測定装置および波長校正方法

    出願日

    2019年10月25日

    登録番号

    7382629

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

25. 光学測定装置および波長校正方法

    出願日

    2019年10月25日

    登録番号

    7382629

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

26. 光学測定装置および波長校正方法

    出願日

    2019年10月25日

    登録番号

    7382629

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

27. 光学測定装置および光学測定方法

    出願日

    2019年10月24日

    登録番号

    7341849

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

28. 光学ユニット、光学測定装置および光学測定方法

    出願日

    2019年4月15日

    登録番号

    7219463

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

29. 光学ユニット、光学測定装置および光学測定方法

    出願日

    2019年4月15日

    登録番号

    7219463

    技術分野

    測定；試験

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

30. 光線力学治療装置及び光線力学治療装置用カートリッジ

    出願日

    2019年2月26日

    登録番号

    7218424

    技術分野

    医学または獣医学；衛生学

    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）