プルミアム
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株式会社テクノオプティス

特許 全11件

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全11件 （1〜11件目を表示）

  1. 計測装置及び計測装置の防塵方法

    出願日
    2020年3月26日
    登録番号
    7428566
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 計測装置及び計測装置の防塵方法

    出願日
    2020年3月26日
    登録番号
    7428566
    技術分野
    他に分類されない電気技術
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 計測装置及び計測装置の防塵方法

    出願日
    2020年3月26日
    登録番号
    7428566
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 測光装置

    出願日
    2016年5月19日
    登録番号
    6879675
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 測光装置

    出願日
    2016年5月19日
    登録番号
    6879675
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 測光装置

    出願日
    2016年5月19日
    登録番号
    6980362
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 測光装置

    出願日
    2016年5月19日
    登録番号
    6879675
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 測光装置

    出願日
    2016年5月19日
    登録番号
    6879675
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 測光装置

    出願日
    2016年5月19日
    登録番号
    6980362
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 平面分光干渉計

    出願日
    2014年12月22日
    登録番号
    6511263
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. 平面分光干渉計

    出願日
    2014年12月22日
    登録番号
    6511263
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）