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独立行政法人国立文化財機構

特許 全7件

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全7件 （1〜7件目を表示）

  1. 粒度分布の測定方法、粒度分布の測定装置、及び演算装置

    出願日
    2020年5月27日
    登録番号
    7426659
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 粒度分布の測定方法、粒度分布の測定装置、及び演算装置

    出願日
    2020年5月27日
    登録番号
    7426659
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 粒度分布の測定方法、粒度分布の測定装置、及び演算装置

    出願日
    2020年5月27日
    登録番号
    7426659
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 膠の製造方法

    出願日
    2020年4月9日
    登録番号
    7216429
    技術分野
    染料；ペイント；つや出し剤；天然樹脂；接着剤；他に分類されない組成物；他に分類されない材料の応用
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 膠の製造方法

    出願日
    2020年4月9日
    登録番号
    7216429
    技術分野
    染料；ペイント；つや出し剤；天然樹脂；接着剤；他に分類されない組成物；他に分類されない材料の応用
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム

    出願日
    2019年7月9日
    登録番号
    6903348
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム

    出願日
    2019年7月9日
    登録番号
    6957068
    技術分野
    計算または計数
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）