プルミアム
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株式会社日立ハイテクアナリシス

特許 全595件

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全595件 （1〜30件目を表示）

  1. 試料片移設装置

    出願日
    2021年10月21日
    登録番号
    7425231
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. 試料片移設装置

    出願日
    2021年10月21日
    登録番号
    7425231
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. 試料片移設装置

    出願日
    2021年10月21日
    登録番号
    7425231
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. 試料片移設装置

    出願日
    2021年10月21日
    登録番号
    7425231
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. 試料片移設装置

    出願日
    2021年10月21日
    登録番号
    7425231
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 膜電極接合体の検査方法および検査装置

    出願日
    2021年3月15日
    登録番号
    7299260
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 膜電極接合体の検査方法および検査装置

    出願日
    2021年3月15日
    登録番号
    7299260
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 膜電極接合体の検査方法および検査装置

    出願日
    2021年3月15日
    登録番号
    7299260
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の光軸調整方法

    出願日
    2020年10月28日
    登録番号
    7444754
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の光軸調整方法

    出願日
    2020年10月28日
    登録番号
    7444754
    技術分野
    器械の細部
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の光軸調整方法

    出願日
    2020年10月28日
    登録番号
    7444754
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. 集束イオンビーム装置

    出願日
    2020年9月25日
    登録番号
    7246744
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. 集束イオンビーム装置

    出願日
    2020年9月25日
    登録番号
    7246744
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. 熱分析装置

    出願日
    2020年3月24日
    登録番号
    7365278
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 集束イオンビーム加工装置

    出願日
    2020年3月23日
    登録番号
    7354037
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7391735
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7413105
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 粒子ビーム装置及び複合ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7383536
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 粒子ビーム装置及び複合ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7383536
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7413105
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 走査型プローブ顕微鏡及び設定方法

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7351778
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 粒子ビーム装置及び複合ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7383536
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7360978
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7391735
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 粒子ビーム装置及び複合ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7383536
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7413105
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7360978
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7391735
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 荷電粒子ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7391735
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 粒子ビーム装置及び複合ビーム装置

    出願日
    2020年3月18日
    登録番号
    7383536
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）