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菱電湘南エレクトロニクス株式会社

特許 全22件

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全22件 (1〜22件目を表示)

  1. 液体検知方法および液体検知装置

    出願日
    2019年3月20日
    登録番号
    7236893
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. 液体検知方法および液体検知装置

    出願日
    2019年3月20日
    登録番号
    7236893
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. 超音波探傷装置用の回転トランス及び超音波探傷装置

    出願日
    2018年10月19日
    登録番号
    6669313
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  4. 超音波探傷装置用の回転トランス及び超音波探傷装置

    出願日
    2018年10月19日
    登録番号
    6669313
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  5. 超音波探傷装置用の回転トランス及び超音波探傷装置

    出願日
    2018年10月19日
    登録番号
    6669313
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  6. 超音波探傷装置用の回転トランス及び超音波探傷装置

    出願日
    2018年10月19日
    登録番号
    6669313
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  7. 測点投影システム、および測定治具

    出願日
    2018年9月14日
    登録番号
    7104595
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  8. 測点投影システム、および測定治具

    出願日
    2018年9月14日
    登録番号
    7104595
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  9. 測点投影システム、および測定治具

    出願日
    2018年9月14日
    登録番号
    7104595
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  10. 測点投影システム、および測定治具

    出願日
    2018年9月14日
    登録番号
    7104595
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  11. 測点投影システム、および測定治具

    出願日
    2018年9月14日
    登録番号
    7104595
    技術分野
    道路,鉄道または橋りょうの建設
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  12. 超音波探傷装置、超音波探傷プログラム及び超音波探傷方法

    出願日
    2018年9月12日
    登録番号
    6850275
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  13. 超音波探傷装置、超音波探傷プログラム及び超音波探傷方法

    出願日
    2018年9月12日
    登録番号
    6850275
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  14. 超音波測定装置及び超音波測定方法

    出願日
    2018年9月4日
    登録番号
    7199182
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  15. 超音波検査方法及び超音波検査装置

    出願日
    2017年5月15日
    登録番号
    6830630
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  16. 超音波検査方法及び超音波検査装置

    出願日
    2017年5月15日
    登録番号
    6830630
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  17. 超音波探傷装置

    出願日
    2017年1月25日
    登録番号
    6400134
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  18. 超音波探傷装置

    出願日
    2017年1月25日
    登録番号
    6400134
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  19. 光軸調整機構

    出願日
    2016年8月10日
    登録番号
    6293367
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  20. 光軸調整機構

    出願日
    2016年8月10日
    登録番号
    6293367
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  21. 超音波探傷装置及び超音波探傷方法

    出願日
    2015年9月4日
    登録番号
    6177290
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  22. 超音波探傷装置及び超音波探傷方法

    出願日
    2015年9月4日
    登録番号
    6177290
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)