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高陽電子株式会社

特許 全9件

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全9件 (1〜9件目を表示)

  1. 塗装膜解析装置及び塗装膜解析方法

    出願日
    2016年3月10日
    登録番号
    6845386
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. 塗装膜解析装置及び塗装膜解析方法

    出願日
    2016年3月10日
    登録番号
    6845386
    技術分野
    計算または計数
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. 塗装膜解析装置及び塗装膜解析方法

    出願日
    2016年3月10日
    登録番号
    6845386
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  4. 粉体圧縮成形物の評価方法及び評価装置

    出願日
    2015年7月28日
    登録番号
    6571436
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  5. 粉体圧縮成形物の評価方法及び評価装置

    出願日
    2015年7月28日
    登録番号
    6571436
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  6. 光干渉断層計測装置

    出願日
    2015年3月3日
    登録番号
    6571352
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  7. 光干渉断層計測装置

    出願日
    2015年3月3日
    登録番号
    6571352
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  8. 塗装膜解析方法

    出願日
    2014年3月19日
    登録番号
    6435106
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  9. 塗装膜解析方法

    出願日
    2014年3月19日
    登録番号
    6435106
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)