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有限会社ドライケミカルズ

特許 全76件

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全76件 (1〜30件目を表示)

  1. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    セメント,粘土,または石材の加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    工作機械;他に分類されない金属加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  4. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  5. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  6. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  7. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    セメント,粘土,または石材の加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  8. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年11月28日
    登録番号
    7429080
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  9. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年6月23日
    登録番号
    7398852
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  10. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年6月23日
    登録番号
    7398852
    技術分野
    セメント,粘土,または石材の加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  11. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年6月23日
    登録番号
    7398852
    技術分野
    工作機械;他に分類されない金属加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  12. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年6月23日
    登録番号
    7398852
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  13. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年6月23日
    登録番号
    7398852
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  14. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2023年6月23日
    登録番号
    7398852
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  15. SiC延長インゴットの製造方法

    出願日
    2023年3月29日
    登録番号
    7381031
    技術分野
    結晶成長
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  16. SiC延長インゴットの製造方法

    出願日
    2023年3月29日
    登録番号
    7381031
    技術分野
    結晶成長
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  17. 半導体結晶ウェハの研削加工方法

    出願日
    2023年2月24日
    登録番号
    7285507
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  18. 半導体結晶ウェハの研削加工方法

    出願日
    2023年2月24日
    登録番号
    7285507
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  19. 半導体結晶ウェハの研削加工方法

    出願日
    2023年2月24日
    登録番号
    7285507
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  20. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7260889
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  21. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7243996
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  22. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7243996
    技術分野
    セメント,粘土,または石材の加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  23. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7260889
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  24. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7260889
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  25. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7243996
    技術分野
    セメント,粘土,または石材の加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  26. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7243996
    技術分野
    セメント,粘土,または石材の加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  27. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7260889
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  28. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7243996
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  29. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7260889
    技術分野
    セメント,粘土,または石材の加工
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  30. 半導体結晶ウェハの製造装置および製造方法

    出願日
    2022年10月25日
    登録番号
    7243996
    技術分野
    研削;研磨
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)