プルミアム
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株式会社昭和電気研究所

特許 全9件

プルミアムが取得した明細を新しい日付順に掲載しています。30件ずつ表示し、最終ページまで確認できます。

全9件 （1〜9件目を表示）

  1. 外観検査装置

    出願日
    2020年5月28日
    登録番号
    7441469
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. ウエハ検査装置

    出願日
    2019年5月21日
    登録番号
    7360687
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. ウエハ検査装置

    出願日
    2019年5月21日
    登録番号
    7360687
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. ウエハ検査装置

    出願日
    2019年5月21日
    登録番号
    7360687
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. ウェハエッジ検査装置

    出願日
    2016年3月17日
    登録番号
    6602705
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. ウェハエッジ検査装置

    出願日
    2016年3月17日
    登録番号
    6602705
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. ウェハ欠陥検査装置

    出願日
    2016年2月23日
    登録番号
    6697285
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. ウェハ欠陥検査装置

    出願日
    2016年2月23日
    登録番号
    6697285
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. ウェハ欠陥検査装置

    出願日
    2016年2月23日
    登録番号
    6697285
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）