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レーザーテック株式会社

特許 全242件

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全242件 （1〜30件目を表示）

  1. ビームスプリッタ及び光学装置

    出願日
    2022年10月6日
    登録番号
    7462005
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  2. ビームスプリッタ及び光学装置

    出願日
    2022年10月6日
    登録番号
    7462005
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  3. ビームスプリッタ及び光学装置

    出願日
    2022年10月6日
    登録番号
    7462005
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  4. ビームスプリッタ及び光学装置

    出願日
    2022年10月6日
    登録番号
    7462005
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  5. ビームスプリッタ及び光学装置

    出願日
    2022年10月6日
    登録番号
    7462005
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  6. 光源装置、検査装置、および調整方法

    出願日
    2022年6月28日
    登録番号
    7132455
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  7. 光源装置、検査装置、および調整方法

    出願日
    2022年6月28日
    登録番号
    7132455
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  8. 光源装置及び検査装置

    出願日
    2022年4月14日
    登録番号
    7192156
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  9. 光源装置及び検査装置

    出願日
    2022年4月14日
    登録番号
    7192156
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  10. 画像処理装置および画像処理方法

    出願日
    2021年9月3日
    登録番号
    7168743
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  11. ＥＵＶマスク検査装置、ＥＵＶマスク検査方法、ＥＵＶマスク検査プログラム及びＥＵＶマスク検査システム

    出願日
    2021年1月8日
    登録番号
    6961846
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  12. マスク検査方法及びマスク検査装置

    出願日
    2020年12月7日
    登録番号
    6906823
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  13. マスク検査方法及びマスク検査装置

    出願日
    2020年12月7日
    登録番号
    6906823
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  14. マスク検査方法及びマスク検査装置

    出願日
    2020年12月7日
    登録番号
    6906823
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  15. 光学装置、及び光学装置の汚染防止方法

    出願日
    2020年5月26日
    登録番号
    6844798
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  16. 光学装置、及び光学装置の汚染防止方法

    出願日
    2020年5月26日
    登録番号
    6844798
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  17. 光学装置、及び光学装置の汚染防止方法

    出願日
    2020年5月26日
    登録番号
    6844798
    技術分野
    写真；映画；光波以外の波を使用する類似技術；電子写真；ホログラフイ
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  18. 検査装置

    出願日
    2020年5月7日
    登録番号
    7405685
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  19. 検査装置及び検査方法

    出願日
    2020年3月19日
    登録番号
    7440312
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  20. 検査装置及び検査方法

    出願日
    2020年3月19日
    登録番号
    7440312
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  21. 検査装置及び検査方法

    出願日
    2020年3月19日
    登録番号
    7440312
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  22. 検査装置、及び参照画像の生成方法

    出願日
    2020年3月10日
    登録番号
    7475902
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  23. 検査装置、及び参照画像の生成方法

    出願日
    2020年3月10日
    登録番号
    7475902
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  24. 測定装置及び測定方法

    出願日
    2020年2月28日
    登録番号
    7365266
    技術分野
    光学
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  25. 測定装置及び測定方法

    出願日
    2020年2月28日
    登録番号
    7365266
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  26. 測定装置及び測定方法

    出願日
    2020年2月28日
    登録番号
    7365266
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  27. 輝度補正装置、検査装置、輝度補正方法、及び輝度補正プログラム

    出願日
    2020年2月21日
    登録番号
    7201631
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  28. 輝度補正装置、検査装置、輝度補正方法、及び輝度補正プログラム

    出願日
    2020年2月21日
    登録番号
    7201631
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  29. 検査装置

    出願日
    2020年1月29日
    登録番号
    7351758
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）

  30. 検査装置

    出願日
    2020年1月29日
    登録番号
    7351758
    技術分野
    測定；試験
    取得元：Gビズインフォ（特許庁データ）