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ALITECS株式会社

特許 全10件

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全10件 (1〜10件目を表示)

  1. 処理条件推定装置、方法及びプログラム

    出願日
    2020年10月29日
    登録番号
    7094594
    技術分野
    計算または計数
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  2. 処理条件推定装置、方法及びプログラム

    出願日
    2020年10月29日
    登録番号
    7094594
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  3. パターン測定装置、方法及びプログラム、並びに、パターン検査装置、方法及びプログラム

    出願日
    2020年4月10日
    登録番号
    7211627
    技術分野
    計算または計数
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  4. パターン測定装置、方法及びプログラム、並びに、パターン検査装置、方法及びプログラム

    出願日
    2020年4月10日
    登録番号
    7211627
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  5. パターン測定装置、方法及びプログラム、並びに、パターン検査装置、方法及びプログラム

    出願日
    2020年4月10日
    登録番号
    7211627
    技術分野
    写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  6. パターン測定装置、方法及びプログラム、並びに、パターン検査装置、方法及びプログラム

    出願日
    2020年4月10日
    登録番号
    7211627
    技術分野
    測定;試験
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  7. 検査装置、方法、及び、プログラム

    出願日
    2019年10月30日
    登録番号
    7087221
    技術分野
    基本的電気素子
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  8. 検査装置、方法、及び、プログラム

    出願日
    2019年10月30日
    登録番号
    7087221
    技術分野
    計算または計数
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  9. テストパターンの抽出方法及び抽出プログラム

    出願日
    2018年1月12日
    登録番号
    6996677
    技術分野
    写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)
  10. 設計レイアウトデータの不良検出方法及び設計レイアウトデータの不良検出プログラム

    出願日
    2015年6月11日
    登録番号
    6754174
    技術分野
    計算または計数
    取得元:Gビズインフォ(特許庁データ)